產(chǎn)品中心
Product Center
熱門搜索：
3380/3380P/3380D致茂Chroma 3380/3380P/3380D VLSI測(cè)試系統(tǒng)
ME045/ME085/ME150PCB TDR特性阻抗測(cè)試儀
SDS1122E+鼎陽(yáng)SDS1122E+數(shù)字示波器
UT89X/UT89XD優(yōu)利德UT89X/D系列專業(yè)NCV數(shù)字式萬(wàn)用表
UTG932/UTG962優(yōu)利德UTG932/UTG962函數(shù)任意波形發(fā)生器
E8900A德力 5G NR 信號(hào)分析儀
UT890C/D/C+/D+優(yōu)利德UT890C/D/C+/D+數(shù)字萬(wàn)用表
DS1202Z-E/DS1102Z-E普源 DS1202Z-E/DS1102Z-E 數(shù)字示波器
UTP1306S優(yōu)利德UTP1306S系列直流穩(wěn)壓電源
AN1640H/AN1651H艾諾Ainuo AN1640系列智能安規(guī)測(cè)試儀
ME-2SYQ-2型淬火介質(zhì)冷卻特性測(cè)試儀
MSO58/MSO56/MSO54泰克Tektronix MSO54/56/58混合信號(hào)示波器
UTD7072BG/UTD7102BG優(yōu)利德UTD7072BG/UTD7102BG數(shù)字存儲(chǔ)示波器
艾諾 AN87310艾諾Ainuo AN87310 高精度單相功率計(jì)
EDX6600多功能RoHs鹵素元素測(cè)試儀
UT582/UT585/UT586/UT582+優(yōu)利德UT582/UT585/T586漏電保護(hù)開關(guān)測(cè)試儀
當(dāng)前位置：首頁(yè)
產(chǎn)品中心測(cè)試系統(tǒng)
product
產(chǎn)品分類article
相關(guān)文章
致茂3760太陽(yáng)能電池自動(dòng)檢測(cè)及效率分級(jí)系統(tǒng) 適用于6吋單晶和多晶太陽(yáng)能電池 在燒結(jié)爐出料端，藉由CCD 取像定位后，使用伯努力吸盤把電池片快速移載至傳送機(jī)構(gòu) 入料端暫存區(qū)設(shè)計(jì)，可以避免上下游設(shè)備保養(yǎng)停機(jī)
更新時(shí)間：2023-12-28
產(chǎn)品型號(hào)：3760
瀏覽量：1121
致茂Chroma 3813觸碰面板多點(diǎn)半自動(dòng)測(cè)試機(jī) 可靠的觸碰面板測(cè)試機(jī) 適合數(shù)字式觸碰面板與模擬式觸碰面板 面板尺寸 : 6 inch x 3 sites or 12.1 inch x 1 sites 同時(shí)上料測(cè)試6個(gè)待測(cè)物 無(wú)測(cè)試面板壓壞的問(wèn)題 精準(zhǔn)荷重 : 15g~1000g : 誤差≦±3g 可畫點(diǎn)、直線 （e.g. X, □）
更新時(shí)間：2023-12-26產(chǎn)品型號(hào)：3813瀏覽量：1185
致茂Chroma 3260C 三溫系統(tǒng)板測(cè)試分類機(jī) 可靠的高速Pick & Place分類機(jī) 同步吸嘴雙取與雙放設(shè)計(jì) 浮動(dòng)頭可有效率平衡測(cè)試壓力 IC殘留檢測(cè)功能 通用治具設(shè)計(jì) Nitro TEC主動(dòng)式溫控技術(shù)導(dǎo)入 支援Full Range （-40°C~125°C） 測(cè)試溫度 更快速的升降溫反應(yīng)速度
更新時(shí)間：2023-12-26產(chǎn)品型號(hào)：3260C瀏覽量：1077
致茂Chroma 3280Test-In-Tray 測(cè)試分類機(jī) 整合SD卡測(cè)試機(jī)與自動(dòng)分類機(jī)功能 平行測(cè)試120個(gè)micro SD卡 Test-In-Tray UPH = 5400 （以70秒的測(cè)試時(shí)間為例） 支援SD卡資料通訊協(xié)定 支援DC參數(shù)量測(cè)功能 Microsoft Windows XP OS
更新時(shí)間：2023-12-26產(chǎn)品型號(hào)：3280瀏覽量：1182
致茂Chroma 3270微型 IC 測(cè)試分類機(jī) 適合 CMOS 影像感應(yīng)組件量產(chǎn)需求 可靠的高速 Pick&Place 分類機(jī) 3x3 mm 微型 IC 處理能力 浮動(dòng)頭可有效率平衡測(cè)試壓力 自動(dòng)測(cè)試壓力學(xué)習(xí) IC 殘留檢測(cè)功能
更新時(shí)間：2023-12-26產(chǎn)品型號(hào)：3270瀏覽量：1286