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致茂Chroma 58212-C LED電性測(cè)試系統(tǒng)

主要特色：

• 高速高精度
• 橫向、垂直和倒裝芯片
• 寬功率測(cè)試范圍(高達(dá)200 V/2A)
• 高達(dá)8英寸的晶片
• Chroma巨型光電探測(cè)器
• *邊緣傳感器
• 探針頭
• 魯棒Z軸級(jí)
• 晶片映射算法
• 外遮光罩
• 分析工具和統(tǒng)計(jì)報(bào)告

測(cè)試項(xiàng)目

• 電參數(shù)：
  -正向電壓測(cè)量(VF)
  -反向擊穿電壓測(cè)量(VRB)
  -反向泄漏電流
  -SCR檢測(cè)
• 光學(xué)參數(shù)：
  光功率(mW，lm，mcd)
  -主導(dǎo)波長(WD)
  -峰值波長(WP)
  -半高寬(半高寬)
  -CIExy-CCT-CRI

Chroma 58212-C具有自動(dòng)LED晶片/芯片探針測(cè)試儀，提供快速和準(zhǔn)確的LED測(cè)量，測(cè)試次數(shù)少于125 ms*1。

該系統(tǒng)可以修改，以支持不同的LED結(jié)構(gòu)，包括橫向，垂直，和倒裝芯片設(shè)計(jì)。集成掃描儀提供獨(dú)立的晶片映射，以保證精確測(cè)試。探頭頭防止設(shè)備劃傷，并確保與每個(gè)LED固體接觸。

Chroma*的設(shè)計(jì)獲得并分析了光學(xué)數(shù)據(jù)，如主導(dǎo)波長、峰值波長和CCT。此外，它還提供了基本的電氣數(shù)據(jù)，如正向電壓、泄漏電流和反向擊穿電壓，都是在一步測(cè)試中完成的。

58212-C包括一個(gè)用戶友好的圖形界面和*邏輯算法，以顯著提高生產(chǎn)效率.綜合統(tǒng)計(jì)報(bào)告和分析工具便于控制和批量生產(chǎn)管理。

注：1：試驗(yàn)條件：在300μm樣品瀝青下，5個(gè)電測(cè)試參數(shù)和1個(gè)光學(xué)參數(shù)。由于LED特性的不同，測(cè)量結(jié)果可能會(huì)有所不同。

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