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致茂Chroma 3650-CX SoC 測試系統(tǒng)50/100MHz測試工作頻率256個(gè) I/O 通道(I/O Channel)16/32 MW vector 記憶體16/32 MW pattern instruction 記憶體Multi-site 測試可達(dá) 32 sites16個(gè) DPS 通道8個(gè) PMU 通道
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產(chǎn)品分類article
相關(guān)文章品牌 | Chroma/致茂 | 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) |
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子 |
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致茂Chroma 3650-CX SoC 測試系統(tǒng)
主要特色:
應(yīng)用范圍
Chroma 3650-CX實(shí)現(xiàn)高性價(jià)比的IC測試系統(tǒng)
3650-CX采用All-In-One的小型化設(shè)計(jì),除了擁 有相當(dāng)競爭性的機(jī)臺(tái)價(jià)格之外,并具備高準(zhǔn)確 性與高生產(chǎn)力。因此,能夠降低客戶的測試成 本與提升IC產(chǎn)品的利潤。3650-CX具備多樣化的 測試能力與強(qiáng)大的軟體工具,能夠用來測試包 含MCU,NAND flash controller, PC周邊相關(guān)的 IC,Switch,LED驅(qū)動(dòng)IC,以及Power IC和SoC等 產(chǎn)品。
強(qiáng)大且功能完整的3650-CX系統(tǒng)軟體 - CRISP
架構(gòu)在Windows XP作業(yè)系統(tǒng)上的Chroma 3650-CX 的軟體測試環(huán)境CRISP ( Chroma Integrated Software Platform),是一個(gè)結(jié)合工程 開發(fā)與量產(chǎn)需求的軟體平臺(tái)。主要包含四個(gè)部 份 : 執(zhí)行控制模組、資料分析模組、程式除錯(cuò) 模組以及測試機(jī)臺(tái)管理模組。透過親切的圖形 人機(jī)介面的設(shè)計(jì),CRISP提供多樣化的開發(fā)與除 錯(cuò)工具,包含 :Datalog, Shmoo plot、Waveform tool、Scope tool、Pin Margin、Pattern Editor 與Plan Debugger、Histogram, STDF, Wafer Map等 軟體模組,可滿足研發(fā)/測試工程師開發(fā)程式時(shí) 的需求與產(chǎn)線人員量產(chǎn)時(shí)的需求。
All-in-One小型化機(jī)臺(tái)設(shè)計(jì)節(jié)省占地面積
3650-CX將所有的測試儀器模組與機(jī)臺(tái)的電源系 統(tǒng)全部整合在單一個(gè)測試頭的空間里,并且采用 氣冷式的設(shè)計(jì)。透過如此高整合度的小型化設(shè) 計(jì),可以大幅減少機(jī)臺(tái)的占地面積,以節(jié)省整體 的測試成本。
周邊設(shè)備
Chroma 3650-CX支援多種裝置的驅(qū)動(dòng)程式介面 (TTL & GPIB) , 可進(jìn)行與晶圓針測機(jī)和送料機(jī), 包括SEIKO-EPSON、SHIBASOKU、MULTI-TEST、 ASECO、DAYMARC、TEL、TSK、OPUS II等等裝 置之間的溝通。
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Model | Description | 詢價(jià) |
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3650-CX | SoC 測試系統(tǒng) | |
致茂Chroma 3650-CX SoC 測試系統(tǒng)