可靠性測試儀_第(2)頁-深圳市米恩科技有限公司

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致茂Chroma POGO BT 4000 測試儀

致茂Chroma POGO BT 4000 測試儀筆記本/手持式系統(tǒng)的LCD耐久性 : 模擬一個產(chǎn)品的面板元件非常態(tài)的受力按鍵的壽命測試 : 模擬在產(chǎn)品的生命周期內(nèi)按鍵的耐久度機構(gòu)密合度 : 模擬產(chǎn)品結(jié)構(gòu)上的耐久度產(chǎn)品緩沖 : 模擬重復摩擦塑膠材質(zhì)或觸控式面板

更新時間：2024-01-02

產(chǎn)品型號：POGO BT 4000

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Chroma Multi-Hinge Tester 多組開合測試儀

Chroma Multi-Hinge Tester 多組開合測試儀針對筆記型電腦的轉(zhuǎn)軸測試待測物數(shù)量可架設10組Hinge 可擴充同時測試15組Hinge

更新時間：2024-01-02

產(chǎn)品型號：Multi-Hinge Tester

瀏覽量：1141
致茂Chroma HiByM 2001 Hinge 開合測試儀

致茂Chroma HiByM 2001 Hinge 開合測試儀高效能，全自動的扭轉(zhuǎn)開合測試機高速、準確及適用性能符合許多測試規(guī)范主要為筆記型電腦及其他使用時會承受重復性扭轉(zhuǎn)的產(chǎn)品模仿操作者每日正常使用產(chǎn)品時影響的機械結(jié)構(gòu)動作

更新時間：2024-01-02

產(chǎn)品型號：HiByM 2001 Hinge

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致茂Chroma MFM 3000 磁場電場測試儀

致茂Chroma MFM 3000 磁場電場測試儀符合所有現(xiàn)行的tco低頻磁場輻射測試標準（MFM 2000）可載入icniRP、en 50366、iec 62233等規(guī)范（選購），并適用于其他由icniRP衍生的低頻磁場輻射測試規(guī)范（5Hz~400 Khz）（MFM 3000）全自動權(quán)范圍測量，并可同時量測雙頻帶（VLF/ELF）（MFM 2000）頻帶I（5Hz~2 kHz）：10

更新時間：2024-01-02

產(chǎn)品型號：MFM 3000

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致茂Chroma MFM 2000 磁場電場測試儀

致茂Chroma MFM 2000 磁場電場測試儀符合所有現(xiàn)行的TCO低頻磁場輻射測試標準（MFM2000）可載入ICNIRP、EN 50366、IEC 62233等規(guī)范（選購），并適用于其他由ICNIRP衍生的低頻磁場輻射測試規(guī)范（5Hz~400kHz）（MFM 3000）全自動權(quán)范圍測量，并可同時量測雙頻帶（VLF/ELF）（MFM2000）頻帶I（5Hz~2kHz）:10n

更新時間：2024-01-02

產(chǎn)品型號：MFM 2000

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